Os detetores de fluorescência de raios X (XRF) são uma forma de espectroscopia de emissão atômica (AES) que envolve o objetivo de raios X de alta energia na superfície da amostra a ser analisada. A interação destas radiografias com o objeto provoca a emissão de radiografias secundárias (fluorescentes). Cada elemento presente produz raios X com diferentes energias e estas podem ser detetadas e exibidas como um espectro de intensidade contra a energia. A posição dos picos identifica quais elementos estão presentes, e as alturas dos picos identificam quanto de cada elemento está presente. Esta técnica é comumente usada em indústrias como mineração e exploração mineral, cimento, cerâmica e vidro.
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